Учебно-методический комплекс дисциплины «Лабораторные методы исследования полезных ископаемых» для студентов специальности/ образовательной программы



жүктеу 1,43 Mb.
бет42/47
Дата20.11.2023
өлшемі1,43 Mb.
#44385
түріУчебно-методический комплекс
1   ...   39   40   41   42   43   44   45   46   47
УМКД нов ЛАБ методы 2019

Электронно-зондовый микроанализ. Метод основан на возбуждении в исследуемом образце характеристического и тормозного рентгеновского спектра с помощью тонкого электронного пучка и разложении полученного спектра по длинам волн с помощью рентгеновского спектрометра с целью идентификации элементов и определения их содержания. С помощью оптического микро-скопа можно наблюдать участок образца (точку), куда падает электронный луч, а с помощью устройства перемещения образца подставлять под пучок интересующее зерно минерала или его отдельный участок. Содержание того или иного элемента в изучаемом минерале оценивается путем сравнения интенсивностей рентгеновского излучения аналитической линии в исследуемом образце и образце сравнения (стандарте). Содержание элемента в образце сравнения должно быть известно с достаточной степенью точности.
Применение метода. Электронно эондовый микроанализ (метод рентгеноспектрального микроанализа – РСМА) в минералогии является основным методом изучения химического состава микроразмерных минералов. Он позволяет проводить качественный и количественный анализ химического состава минералов на элементы от бора до урана с объемной локальностью в несколько кубических микрон. Абсолютная чувствительность метода (наименьшее количество вещества, которое можно обнаружить) составляет 10-8 -10-15 г. Относительная чувствительность РЛА лежит в пределах 0,1-0,001 % в зависимости от определяемого элемента и условий анализа. Относительная чувствительность устанавливает минимальное содержание элемента, которое может быть обнаружено при его равномерном распределении в минерале. Точность метода составляет 1-2% и определяется в основном стабильностью тока пучка и положением его в пространстве.
Высокая локальность метода обеспечивает возможность получения растровых изображений исследуемого объекта во вторичных, обратно рассеянных, поглощенных электронах и в рентгеновском характеристическом излучении. Эти изображения несут информацию о форме выделений минералов, их пространственных и временных взаимоотношениях, особенностях микро срастания и распределения отдельных элементов по зерну минерала.
Изображения в электронах позволяют наблюдать морфологию выделений минералов, передают информацию об особенностях их микро строения (степени однородности-неоднородности, зональности), пространственных и временных взаимоотношениях минералов, степени изменения разрушения минерала. Изображение в рентгеновском характеристическом излучении дает качественную картину распределения элемента в пределах сканируемой площади образца, позволяет судить о содержании элемента в одних участках образца по отношению к другим.
Метод позволяет получать качественно новую информацию о химическом составе дисперсных минералов, сосуществующих минералов, особенностях их микро срастания и распределения отдельных элементов.
Приборы. Первый макет рентгеновского микроанализатора был создан во Франции Р. Кастеном и А. Гинье в 1949 г, и независимо от них аналогичный макет был построен в СССР И.Б. Боровским и Н.П. Ильиным. В настоящее время выпускаются электронно-зондовые микроанализаторы самых разных модификаций. Принципиальная схема устройства электронно зондового микроанализатора включает в себя: источник электронов, анод, конденсорные линзы, объективную линзу, оптический микроскоп, держатель образца, энерго дисперсионный спектрометр и кристалл-волновой спектрометр.
Объекты анализа. Объектами для анализа служат полированные шлифы, с высоким качеством полировки. Размер полированного шлифа зависит от типа микроанализатора и используемого держателя образцов (обычно 1,5-2 см, толщина меньше 2 см). Если исходный материал представляет собой концентрат или пробу, состоящую из зерен минералов, то для полировки их заливают с помощью эпоксидной смолы в металлическую гильзу или запрессовывают в полистирол или другой связующий материал. Поверхность полировки напыляется (уголь, медь, серебро, золото) для обеспечения электропроводности поверхностного слоя образца для стекания электронов и предотвращения образования объемного электрического заряда.
Минимальный размер рудного выделения, которое можно проанализировать количественно, должен быть больше 3 - 5 микрон, для силикатов - больше 10 микрон.
Достоинством метода является его прицельность, т.е. возможность выбора для анализа того или иного зерна минерала или включения и постоянного контроля зоны анализа с помощью оптического микроскопа с увеличением порядка 300-400 раз.

  1. доп. [с. 345-382; 403-411]

Контрольные вопросы:



  1. Методы рентгеноструктурного анализа, их применение, расшифровка результатов.

  2. Основное предназначение электронно-зондового микроанализа?

  3. Какую информацию дают растровые изображения?

  4. На какие элементы проводится качественный и количественный электронно-зондовый микроанализ?


жүктеу 1,43 Mb.

Достарыңызбен бөлісу:
1   ...   39   40   41   42   43   44   45   46   47




©g.engime.org 2024
әкімшілігінің қараңыз

    Басты бет
рсетілетін қызмет
халықаралық қаржы
Астана халықаралық
қызмет регламенті
бекіту туралы
туралы ережені
орталығы туралы
субсидиялау мемлекеттік
кеңес туралы
ніндегі кеңес
орталығын басқару
қаржы орталығын
қаржы орталығы
құрамын бекіту
неркәсіптік кешен
міндетті құпия
болуына ерікті
тексерілу мемлекеттік
медициналық тексерілу
құпия медициналық
ерікті анонимді
Бастауыш тәлім
қатысуға жолдамалар
қызметшілері арасындағы
академиялық демалыс
алушыларға академиялық
білім алушыларға
ұйымдарында білім
туралы хабарландыру
конкурс туралы
мемлекеттік қызметшілері
мемлекеттік әкімшілік
органдардың мемлекеттік
мемлекеттік органдардың
барлық мемлекеттік
арналған барлық
орналасуға арналған
лауазымына орналасуға
әкімшілік лауазымына
инфекцияның болуына
жәрдемдесудің белсенді
шараларына қатысуға
саласындағы дайындаушы
ленген қосылған
шегінде бюджетке
салығы шегінде
есептелген қосылған
ұйымдарға есептелген
дайындаушы ұйымдарға
кешен саласындағы
сомасын субсидиялау